Doppelpendel-Schleif- und Poliermaschine

Die Ion Beam Figure Machine Tool arbeitet mit hoher Strahldichte, kleinem Strahldivergenzwinkel und großer Strahlgleichmäßigkeit. Ein hochenergetischer Ionenstrahl bombardiert die Oberfläche der Optik, um einen hochpräzisen Oberflächenfehler zu erzielen. Die Erzeugung hochenergetischer Ionen basiert auf hochreinem Inertgas, das durch eine Hohlkathode strömt. Die Elektrode erzeugt unter der Entladung des Leistungsmoduls eine Ionisierung und injiziert den Elektronenstrahl in den Hohlraum. Der Elektronenstrahl wird durch die gleichmäßige Elektronenplatte unter der Wirkung des elektrischen Feldes und des Magnetfelds der Anode gleichmäßig im Anodenbereich verteilt. Das elektrische Feld des Gitters. Der ausgegebene Ionenstrahl wird vom System gesteuert, um eine gleichmäßige und stabile Oberflächenentfernung optischer Elemente zu erreichen.

Der Fasergalvanometer-Scanner wird hauptsächlich bei Lasermarkierungs- und Laserschweißgeräten eingesetzt.

Das Substrat des Ultraviolett-Galvanometer-Scanners besteht aus Silizium/K9/Quarz. Es wird hauptsächlich auf Laserscangeräte für Lasermarkierung und 3D-Druck usw. angewendet.

CTH:YAG wurde oft mit Blitzlampen im sichtbaren Bereich gepumpt. CTH:YAG hat auch ein bemerkenswertes Breitbandspektrum von 1,7 μm bis 2,15 μm (mit einem Maximum für die längsten Wellenlängen bei etwa 2,1 μm).

Homogenisierende Linsen bestehen aus K9/Quarz.

Basierend auf dem Prinzip der Fizeau-Interferenz und der mechanischen Phasenverschiebung und ausgestattet mit dem selbst entwickelten superachromatischen Strahlaufweitungs- und Abbildungssystem unterstützt das Interferometer das Plug-and-Play einer Laserquelle mit einer Arbeitswellenlänge im Bereich von 600–1600 nm.

Ce:GAGG ist ein relativ neuer einzelner Szintillationskristall mit vielen Eigenschaften, wie z. B. hoher Lichtausbeute, hoher Dichte, guter Energieauflösung, guter Emissionspeakanpassung an den Siliziumsensor und niedriger intrinsischer Energieauflösung. Darüber hinaus ist das Material nicht hygroskopisch und nicht selbststrahlend. das weit verbreitet in der PET-, PEM-, SPECT-, CT-, Röntgen- und Y-Strahlenerkennung usw. verwendet wird.