Laser à impulsions à semi-conducteurs Q-switched

Le cristal LaAlO3 est le matériau de substrat pour la croissance épitaxiale de films minces supraconducteurs à haute température et de films minces à magnétorésistance géante en raison de sa bonne correspondance de réseau avec une variété de matériaux de structure pérovskite.

Basé sur le principe de l'interférence Fizeau et du déphasage mécanique et équipé du système d'expansion et d'imagerie de faisceau super-achromatique auto-développé, l'interféromètre prend en charge le plug and play d'une source laser avec une longueur d'onde de travail comprise entre 600 et 1 600 nm.

Le substrat du scanner du galvanomètre à lumière verte est en silicium/K9/quartz. Il est principalement appliqué aux dispositifs de marquage laser et de gravure laser.

Le grenat de gadolinium et de gallium (GGG) est un substrat spécial pour les couches minces magnéto-optiques en raison de son excellente stabilité physique, mécanique et chimique.

Le grenat de lutétium et d'aluminium dopé au cérium (Ce:LuAG) est un scintillateur bien établi et possède de nombreuses propriétés attrayantes, telles qu'une désintégration rapide (80 ns), un rendement lumineux élevé, des pics d'émission à 510 nm qui correspondent bien à la sensibilité des détecteurs Si-CCD commerciaux. ainsi qu'une bonne stabilité mécanique et chimique. Ce:LuAG est également un cristal très approprié pour les écrans d’imagerie, l’éclairage LED et l’éclairage laser.

Basé sur la technique du déphasage, l'interféromètre laser, largement utilisé dans la mesure de haute précision de composants optiques plans et sphériques, caractérise la topographie tridimensionnelle de la surface mesurée avec une précision de 0,06 μm (Peak-to-valley) ou plus haut.